LabStation-5落地式X射線衍射儀作為新一代高性能多功能衍射分析平臺，配備了HPC探測器，并具備自動識別功能，能夠智能識別所有光學組件和樣品臺。結合CrystalX智能分析軟件，它可實現一鍵式操作，從樣品放置到結果分析全程自動化，極大地簡化了實驗流程，顯著提高了科研效率。

該儀器不僅操作簡便，還具備高度靈活性。其高精度θ/θ閉環測角儀驅動系統確保了測量結果的高準確性和重復性。非共面臂結構進一步拓展了儀器的應用范圍和測量能力。無論是普通粉末樣品、液體樣品，還是納米材料、藥品、半導體、薄膜等復雜樣品，LabStation-5都能輕松應對，滿足多樣化的科研需求。全自動光學系統與模塊化設計的結合，在實現先進測量的同時，提供了強大的擴展性，可根據不同需求靈活配置。

憑借其的性能、智能的操作方式以及多功能性，LabStation-5為材料科學、納米技術、半導體研發等領域的工作者提供了一個高效、可靠的分析平臺，助力研發生產與技術創新。

使用優勢

模塊化設計

配備模塊化樣品臺系統，支持無工具卡扣式插拔，安裝與更換過程簡單高效，極大地提升了儀器使用的靈活性。

多種光束幾何

配備Bragg-Brentano粉末衍射幾何和塊狀樣品、涂層和適用于薄膜的平行光束幾何，它們之間可以進行切換，且無需人工干預，是粉末、塊狀物體、纖維、片材和薄膜（非晶、多晶和外延）在內的所有類型的樣品進行分析的理想選擇。

出色的HPC探測器

搭載光子計數像素化HPC探測器，在對衍射強度具有極大提升的同時，顯著提升了靈敏度、信噪比、動態范圍、時間分辨率和空間分辨率五大核心性能。

電動可變狹縫

配備電動可變狹縫能夠根據測量需求自動調整狹縫寬度，優化光束強度與分辨率，提高測量精度和效率，同時適應不同樣品類型和實驗條件，增強儀器的靈活性和適用性。

多元化的附件選擇

可配備豐富的樣品臺附件，為您提供靈活多樣的樣品分析解決方案，滿足不同形態、尺寸和測試需求的樣品分析，助您更全面、深入地探索材料特性。

衍射圓半徑≥300mm

LabStation-5配備衍射圓半徑≥300mm，可顯著擴展測量角度范圍，提供更高的分辨率和更寬的2θ掃描范圍，從而實現對復雜材料微觀結構的高精度分析，尤其適用于薄膜、納米材料及多晶樣品的精細研究。

非共面臂結構

配備非共面臂結構顯著擴展了測量角度范圍，提升了測量精度，增強了面內衍射測量能力，同時支持多種應用，為薄膜研究、殘余應力分析、織構分析等提供了強大的支持，極大地提升了儀器的多功能性和適用性。